STI5300C 晶体管图示仪
STI5300C晶体管图示仪 综合了5000E和5300HX的所有功能,能够创建用于存储和直观操作的数字曲线。STI5300CSTI5000C可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。使用高速ATE测试步骤生成曲线,逐点构建曲线,使用美国STI品牌5000C或5300C测试系统快速准确地生成精度数据点,数据增量可按线性或对数步长编程,曲线生成速度很快,每个步骤的典型测试时间为6到20MS,一条200个数据点的曲线通常只需要几秒钟就可以生成,捕获的曲线数据......
产品描述
STI5300C晶体管图示仪综合了5000E和5300HX的所有功能,能够创建用于存储和直观操作的数字曲线。STI5300C&STI5000C可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。使用高速ATE测试步骤生成曲线,逐点构建曲线,使用美国STI品牌5000C或5300C测试系统快速准确地生成精度数据点,数据增量可按线性或对数步长编程,曲线生成速度很快,每个步骤的典型测试时间为6到20MS,一条200个数据点的曲线通常只需要几秒钟就可以生成,捕获的曲线数据点可以加载到Excel中创建曲线跟踪表示。可以用于测试半导体分立器件,二极管,三极管,MOSFET,IGBT,稳压管等的静态电性参数。
Scientific Test, Inc,总部位于美国德州。简称STI,专注于分立元器件的测试源的开发,我们在和客户沟通中发现较多的美国级,火箭级,卫星级产品所使用的器件报告,每个分离元器件报告,多是采用STI的数据存档格式。美国STI品牌的晶体管图示仪STI5000系列是一套多用途半导体分立器件high speed智能测试系统。STI品牌的晶体管图示仪具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。ST产品操作简单易操作,测试工程师仅仅使用USB接口或者RS232窜口与电脑连接,配合电脑软件使用就可以测试并获取结果。精确获取/实现测试数据以EXCEL的格式保存,特性曲线保存相当方便。
Scientific Test, Inc,总部位于美国德州。简称STI,专注于分立元器件的测试源的开发,我们在和客户沟通中发现较多的美国级,火箭级,卫星级产品所使用的器件报告,每个分离元器件报告,多是采用STI的数据存档格式。美国STI品牌的晶体管图示仪STI5000系列是一套多用途半导体分立器件high speed智能测试系统。STI品牌的晶体管图示仪具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。ST产品操作简单易操作,测试工程师仅仅使用USB接口或者RS232窜口与电脑连接,配合电脑软件使用就可以测试并获取结果。精确获取/实现测试数据以EXCEL的格式保存,特性曲线保存相当方便。
STI5300C晶体管图示仪使用说明书
电压高达分辨率:1mV
电流高达分辨率:0.1nA
导通电阻高达分辨率:1μΩ
栅极电压高达20V
栅极电压高达20V
提供控制用电脑,预装PCW测试软件
基于PC
多种可用曲线
可编程数据点增量/li>
增量可以是线性的或对数的
可编程关闭时间以较大限度地减少加热
保存和调用曲线输入程序
保存和调用以前捕获的曲线图像
将曲线数据直接加载到 Excel
连续运行多达 10 个曲线程序,数据自动加载到 Excel
编程较大电流/电压限制以防止损坏或发热
存储/调用测试程序
多条连续曲线
多个设备
对数曲线
自动将曲线数据加载到 Excel
大量曲线选择/li>
易于使用:选择曲线,输入范围,按开始
全范围电流(不限于20A)
图形特征可选用工具:刻度轴、更改日志/线性、查看曲线上的数据点、飞涨、打印图表、为新扫描设置光标、保存图表
没有跳线
无SMU设置选择;全自动
STI5300C晶体管图示仪可测试产品
二极管、三极管、Mosfet、IGBT、包括SiC 和GaN 材料的新型Mosfet。测试参数包括但不限于:
Zener/Diode:VF,IR,BVR,BVZ,ZZ
Transistor:hFE,VBEON,IEBO,BVEBO,VCESAT,ICBO,ICEO,BVCEO,VBESAT,BVCBO
MOSFET:VGSTH,IDSS,BVDSS,BVSON,IGSS,VSD,IDON,VGSON,GFS
JFET:IDSS,BVDGO,IGSS,IDOFF,BVGSS,VDSON
IGBT:VGETH,ICES,BVCES,VCEON,IGES,VGEON,VF,ICON
STI5300C晶体管图示仪测试项目操作说明书
TEST | SPECIFICATION | ||||
PARAMETER | V RANGE | I RANGE | MAX RES. | ACCURACY | |
LEAKAGE
|
IR,ICBO,ICEO/R/S/X,IDSS/X,IDOFF,IDRM,IRRM | 10V to 999V (2000V)1 | 2NA (20PA)2 to 50MA | 1 NA (1PA)2 | 1% + 2NA + 20PA/V8 (1% + 200PA + 2PA/V)2,8 |
IEBO,IGSSF,IGSSR,IGSS,IGKO,IR (OPTO) | 10V to 20V (80V)3 | 2NA (20PA)2 to 3A | 1 NA (1PA)2 | 1% + 2NA + 20PA/V8 (1%+ 200PA + 2PA/V)2,8 | |
BREAKDOWN |
BVCEO,BVCES (IGBT) (300μS Pulse above 10mA) |
10V to to 450V (900V)1 to 700V (1400V)1 to 800V (1600V)1 |
100μA to 200MA to 100MA to 50MA | 1 MV | 1% + 100MV |
BVDSS,VD,BVCBO,VDRM,VRRM,VBB,BVR | 10V to 999V (2000V)1 | 100NA to 50MA | 1 MV | 1% + 100MV | |
BVZ |
10V to 5.00V to 9.999V to 50.00V to 700V (1400V)1 to 999V (2000V)1 BVZ Soak - 50V (100V) 0-50 ms to 99 secs |
10μA to 49.9A (500A)4,10 to 25A (250A)4,10 to 9.99A to 100 MA to 50MA to 400mA to 80mA |
1 MV |
0.4% + 2 LSB |
|
BVEBO,BVGSS,BVGKO | 10V to 20V (80V)3 | 100NA to 3A | 1 MV | 1% + 10MV | |
VCESUS | VCEOSUS,VCERSUS,VCEVSUS | VCE:TO 1500V Inductive Kickback,35mH choke | IC:to 4A | 0.5V | 2% + 0.5V |
IMPEDANCE | ZZ (1 kHZ) 0.1Ω to 20 KΩ |
0.1V to 200V DC (measure 50μV to 300mV rms) |
100μA to 300mA DC |
0.001 Ω 1μV |
1% + 1% Range |
GAIN | hFE (1 to 99,999) CTR (01 to 99,999) gFS,gFE |
VCE:.10V to 5.00V5 to 9.99Vto 49.9V VDS,ID:Same as ON STATE VGS:0.1V to 20V (80V)3 |
IE:10μA to 49.9A (99.9A)9 (500A)4,10 derate to 25A (50A)9 (250)4,10 derate to 9.99A IF,IB:100NAto10A ∆ID/∆VGS automatically computed |
.01 hFE .0001 CTR |
VCE:1% + 10MV IC:1% + 100NA IF,IB:1% +5NA |
STI5300C晶体管图示仪主要配置
主机5000C,1000V,100A
提供以下封装对应的测试夹具共18 个: SOD323HE,SMB,SOD882,DFN0603-DL,DFN2018-6A, SOT23,DFN2020,SOT883, SOT223,S OD883B,SOD523,SMA,SOT-363,PowerPAK-SO8,DFN3.3*3.3,TO220,DFN5*6,镊式贴片二极管测试夹具。
STI5300C晶体管图示仪来源于专注半导体分立器件测试系统的研发制造的STI。主机为5000C,静态测试电压1000V,静态电流100A,5000C操作简单,由于系统基于WINDOWS系统,测试界面采用输入式方式,程序编辑非常的简易,测试数据采用单独的界面,可以更加有效的让工程师得到非常详细的测试数据,其测试系统采用分体式设计,可有效的提升设备的扩展性,测试机设定有电路保护,可以有效的保护操作人员的安全性。5000C提供特性曲线输出功能,便于客户对样品的性能有更完整和直观的把握。 5000系列还有其他型号,用户可以根据需求选择适合的曲线跟踪设备。
PART NUMBER | DESCRIPTION |
5000C晶体管图示仪 | Curve Tracer 2NA to 50A, 20v, 1Kv |
5000E | Discrete Semiconductor Tester 2NA to 50A, 20v, 1Kv |
5300C晶体管图示仪 | Curve Tracer 2NA to 50A, 20v, 1Kv (extended ranges available) |
5300HX | Discrete Semiconductor Tester 2NA to 50A, 20v, 1Kv (extended ranges available) |