关于AMETEK温度校验仪校准短传感器与双区域主动控制
校准短传感器和卫生传感器
在许多加工厂,特别是在制药和食品行业,有各种各样的传感器适合公司的个人需求。然而,这些传感器通常很短,并且在几何设计的制造过程中会造成校准过程中的问题。一般而言,假定传感器必须浸入至少15倍于传感器直径的温度校验仪(无论是干燥块还是浴槽)以获得精确的测量结果。这意味着传感器的有源部分必须位于温度均匀的区域。如果这不可行,则必须找到其他方法才能成功完成校准。
解决这个问题的一种方法是使用液体浴来校准传感器,但这需要一种浴液类型,其中液体沿轴向泵送以确保温度均匀性一直到达表面。另外,通常需要“纯粹的”校准,这意味着传感器不能被硅油或可能位于浴槽中的任何其他物质所污染。由于这些挑战,液体池校准通常不适用于短而卫生的传感器。另一种方法是将这些传感器以干燥块单位进行校准。
双区域主动控制
可靠的温度来源,很重要良好的用户界面和集成的解决方案为您节省了时间,简化了校准工作。但是温度校验仪的温度校准测量质量仍然取决于温度源的质量。
一款良好的温度校验仪温度块必须非常稳定,同时具有良好的温度均匀性。这是非常重要的,因为被测传感器可能有不同的测量区域。由于被测传感器在校准过程中也会作为模块中的热负载,因此即使使用多个探头和大型探头,该模块也能保持良好的均匀性。
AMETEK温度校验仪的加热块新的双区设计是解决上述热量问题具有创新性的一步。Jofra开发了双区域原理的两个不同版本 - ACTIVE-CONTROL和CENTRAL-CONTROL。两种版本都不需要对被测传感器进行绝缘,从而可以校准液体填充传感器和其他机械传感器。
AMETEK温度校验仪较为先进的井设计,针对精度进行了优化。提及双区加热块,很特别的是主动控制,AMETEK温度校验仪的加热块分为两个区域,每个区域都有独立的主动控制。块体下部的均匀性接近于实验室液体池的均匀性。下部区域控制校准温度。上部区域通过被测传感器和模块的顶部补偿热量损失,并且确保独立于负载的良好均匀性。
本文来自温度校验仪
在许多加工厂,特别是在制药和食品行业,有各种各样的传感器适合公司的个人需求。然而,这些传感器通常很短,并且在几何设计的制造过程中会造成校准过程中的问题。一般而言,假定传感器必须浸入至少15倍于传感器直径的温度校验仪(无论是干燥块还是浴槽)以获得精确的测量结果。这意味着传感器的有源部分必须位于温度均匀的区域。如果这不可行,则必须找到其他方法才能成功完成校准。
解决这个问题的一种方法是使用液体浴来校准传感器,但这需要一种浴液类型,其中液体沿轴向泵送以确保温度均匀性一直到达表面。另外,通常需要“纯粹的”校准,这意味着传感器不能被硅油或可能位于浴槽中的任何其他物质所污染。由于这些挑战,液体池校准通常不适用于短而卫生的传感器。另一种方法是将这些传感器以干燥块单位进行校准。
双区域主动控制
可靠的温度来源,很重要良好的用户界面和集成的解决方案为您节省了时间,简化了校准工作。但是温度校验仪的温度校准测量质量仍然取决于温度源的质量。
一款良好的温度校验仪温度块必须非常稳定,同时具有良好的温度均匀性。这是非常重要的,因为被测传感器可能有不同的测量区域。由于被测传感器在校准过程中也会作为模块中的热负载,因此即使使用多个探头和大型探头,该模块也能保持良好的均匀性。
AMETEK温度校验仪的加热块新的双区设计是解决上述热量问题具有创新性的一步。Jofra开发了双区域原理的两个不同版本 - ACTIVE-CONTROL和CENTRAL-CONTROL。两种版本都不需要对被测传感器进行绝缘,从而可以校准液体填充传感器和其他机械传感器。
AMETEK温度校验仪较为先进的井设计,针对精度进行了优化。提及双区加热块,很特别的是主动控制,AMETEK温度校验仪的加热块分为两个区域,每个区域都有独立的主动控制。块体下部的均匀性接近于实验室液体池的均匀性。下部区域控制校准温度。上部区域通过被测传感器和模块的顶部补偿热量损失,并且确保独立于负载的良好均匀性。
本文来自温度校验仪