PWX750ML电源进行功率半导体循环测试
PWX750ML电源进行功率半导体循环测试。PWX750ML多范围可编程开关型电源旨在优化机架安装电源。为了提高安装效率,专为机架安装电源而设计。19英寸机架宽度仅1U高,冷却从前到后运行,这意味着单元之间可以相互堆叠。PWX750ML标配USB、RS-232C和LAN接口,这些是系统集成必不可少的,还具有虚拟多通道总线 (VMCB) 功能,可以有效地用于许多不同的远程控制和监控架构。特别是,LAN接口符合LXI,使用户能够通过PC、智能手机或平板电脑上的浏览器轻松控制和监控电源,同时还可以管理不同建筑物中的电源。
PWX750ML多范围可编程开关型电源特点操作使用说明书
可变电压电流组合
额定功率范围内3倍覆盖率
1U高度(宽度半机架尺寸),纤薄轻巧的设计,适合机架安装
额定输出:750W,0至80V、0至28A
PFC电路0.99(100V)或0.97(200V)满载
LAN/USB/RS-232C为标准接口(LAN:LXI兼容)
额定功率范围内3倍覆盖率
1U高度(宽度半机架尺寸),纤薄轻巧的设计,适合机架安装
额定输出:750W,0至80V、0至28A
PFC电路0.99(100V)或0.97(200V)满载
LAN/USB/RS-232C为标准接口(LAN:LXI兼容)
功率半导体可用于改变电压和频率,也可将交流转换至开关型,或将开关型转换至交流的电力转换。使用功率半导体可以驱动发动机、为电池供电、或是运作微电脑与LSI等,是一种可以控制与供应电力的半导体。
但是,当使用功率半导体时容易发热产生高温,从而发生故障。为了减少这一现象,准备了功率半导体的功率循环测试提案。
功率循环测试是对功率半导体不断施加通电与断电的负荷,使芯片的接触温度不断上升与下降,直至功率半导体产生热应力而很终出现损坏,主要以评价铝线连接处与硅芯片下的焊点的寿命为目的。
功率半导体用户对于测试的要求。对于功率循环测试,需要用户持续间歇性的给功率半导体施加电流。功率半导体的焊锡层会由于大电流而变得更容易导热。当因为电流而导致温度上升时,需立刻切断电流。此测试需要用户在监视温度的同时对电流也进行控制。并且在高速改变电流时,要保证电源不发生过大的冲击电流。根据以上测量要求,用户可以选用Kikusui的PWX系列可编程电源来应对。
PWX系列可编程电源可以使用LAN来进行控制。功率循环测试需要用户在监视温度的同时对电流也进行控制,并且在温度达到一定高度后立刻关闭电源,以免高温使焊锡层融化从而导致功率半导体损坏。在不刻意损坏功率半导体的情况下,还需观察功率半导体在被间歇性的施加了一定的温度下所发生的劣化。而Kikusui的PWX系列标准配备了LAN模块,可以高速的进行OUTPUT ON/OFF的控制,从而可以防止温度过度上升。
PWX系列可编程电源具有CC优先启动功能。可以将CC(定电流)模式设为优先输出模式,以防发生过大的冲击电流。如出现过大的冲击电流,则会发生过电流现象从而导致功率半导体受到不必要的负载,从而无法准确完成测试。
PWX系列可编程电源具有任意修改测试范围的功能。根据半导体的不同,可以施加的高达电压与较大电流也会不同。Kikusui的薄型宽量程可变开关型电源PWX系列的额定输出可以任意修改,所以只要在下图的范围内,无需准备多台电源,使用一台就可完成测试。
PWX系列主要规格 | ||
型号 | 电压可变范围 | 电流可变范围 |
PWX750LF | 0~30V | 0~75A |
PWX750ML | 0~80V | 0~28A |
PWX750MHF | 0~230V | 0~10A |
PWX750HF | 0~650V | 0~3.5A |
PWX1500L | 0~30V | 0~150A |
PWX1500ML | 0~80V | 0~56A |
PWX1500MH | 0~230V | 0~20A |
PWX1500H | 0~650V | 0~7A |
PWX系列薄型宽量程可变开关型电源提供两种输出功率规格750W和1500W,并且可以在其额定输出功率(3 倍)内组合多种电压和电流设置。例如,1500W型号的输出功率,PWX1500ML能够在80V-18.75A到26.8V-56A的范围内无缝运行。输入电压具有通用的85V至265V输入电压范围,并且该单元还具有内部功率因数校正 (PFC) 电路来控制谐波电流,还包括模拟外部控制监视输出、主机副机并联运行、各种保护功能和记忆功能。
文章来源于测试仪器