HORIBA MESA-50K X射线荧光分析仪
MESA-50K X射线荧光分析仪特点
1、快速●硅漂移检测器(SDD) 大幅度减少了测量时间,在高通量的同时提供了更高的灵敏度
2、小巧
●便携、体积小、重量轻
●内部电池供电
3、简单
●减少日常维护工作(无需液氮)
●无需真空泵
●各种材料测量直观简单
4、智能
●英文/日文/中文多语言操作界面
●Excel数据管理工具
5、安全
●无需担心 X 射线泄漏
MESA-50K应用
使用MESA-50K对钢涂层进行无损的厚度和成分分析钢涂层在防止钢腐蚀方面起着重要作用,因此了解涂层有助于改善钢的性能。XRF 是一种用于测量涂层厚度和成分的强大技术,使用 MESA-50K X射线荧光分析仪对钢上的锌镍涂层进行了无损的厚度和成分分析。
基础项 |
原理 |
能量分散性X射线荧光光谱 |
目标应用 |
RoHS, ELV, Halogen Free |
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测量元素 |
13Al - 92U |
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样品类型 |
固体, 液体, 粉末 |
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X-ray 发生器 |
X-ray管 |
不超过50kV, 0.2mA |
X-ray辐射尺寸 |
1.2mm, 3mm, 7mm (自动切换) |
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X-ray初级过滤器 |
4 types (自动切换) |
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检测器 |
类型 |
SDD (Silicon Drift Detector) |
信号处理器 |
数字脉冲处理器 |
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样品仓 |
大气环境 |
空气 |
样品观察 |
CCD相机 |
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样品仓尺寸 |
460 x 360 x 150 mm [W x D x H] |
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应用 |
操作 |
PC (Windows® 7) |
电源 |
100-240V, 50/60Hz |
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仪器尺寸 |
590 x 590 x 400 mm [W x D x H] |
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重量 |
60 kg |
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软件 |
分析功能 |
多层膜FPM法(可选) Sb/As分析(可选) |