涂层可以解决污染问题
随着时间的推移，大气污染物，如：盐雾或化学粉尘，会堆积在绝缘子上，形成导电路径，以致于会引起一种被称为闪络的高压放电现象。当闪络发生时，如果人与绝缘子离得太近，会很危险，甚至会有生命安危。进行机械操作或在高压线附近工作的建筑、农业和铁路工人都会面临这种风险。
高压绝缘子的表面涂上有机硅层，可以防止因污染物积聚而引起的闪络。要达到预期效果，涂层必须符合很低厚度的要求，而且要牢固地粘接到绝缘子的表面。由于涂层的价格昂贵，大多数制造商只会使用具有很小要求厚度的涂层。
作为质量控制的一个环节，绝缘子制造商会对涂层的厚度和粘接情况进行检查，而且在绝缘子使用的过程中，还需要对其进行例行维护检测，以确保高压绝缘子能够继续符合安全要求。在这些检测中经常会用到两个奥林巴斯解决方案：涂层厚度的测量，和有机硅绝缘子的粘接检测。

测量涂层的厚度
超声厚度测量可以无损方式快速核查有机硅涂层是否符合很小厚度的要求。超声波会从具有不同声学阻抗的两种材料的交界处反射回来。由于有机硅的阻抗低于陶瓷或复合材料绝缘子，因此声能会从有机硅和绝缘子的交界处反射回来。通过将测厚仪校准为有机硅的声速，可以在不损坏绝缘子的情况下，快速、重复地测量涂层的厚度。

可以使用38DL PLUS或装有单晶软件的45MG超声测厚仪对有机硅涂层的厚度进行测量。当检测空间够大，可以进行耦合操作时，我们建议使用10MHz的M1016接触式探头。可以使用手柄式线缆（LCMH-74-3），接触到距离更远的被测部位。当绝缘子的几何形状不允许耦合M1016探头时，我们建议使用20MHz的手柄式M2055延迟块探头。可测厚度的范围从约0.12毫米到1.25毫米以上。检测涂层较厚或涂层的衰减性较高的材料时，可能需要使用低频探头，如：5MHz的M110-RM接触式探头。

有机硅绝缘子的粘接检测
有机硅涂层和复合材料绝缘子必须完好地粘接在一起，才可以有效地发挥电气性能，如果粘接不好，会导致发生闪络。使用超声探伤仪或带有波型显示功能的测厚仪，可以无损方式快速核查涂层粘接的完整性。

我们建议使用EPOCH 650或EPOCH 6LT超声探伤仪、38DL PLUS，或带有单晶和波形软件的45MG超声测厚仪，配合小直径接触式探头，如：V112-RM 10MHz探头，完成这类粘接检测。这种小直径探头可以伸到绝缘子的波浪裙式外层的凹陷区域中进行检测。

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