牢固连接是影响MEGGER的扫频响应测试仪的测量结果的主要因素
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪在测量时应考虑因素,随着时间或不同测试对象之间的SFRA测量进行比较。这突出表明需要以高达的可重复性执行测试,并消除外部参数(如电缆,连接和仪器性能)的影响。FRAX扫频响应测试仪提供所有必要的工具来确保测量曲线代表变压器的内部条件。FRAX扫频响应测试仪扫频响应测试仪如果有错误的连接会影响测试结果,这就是为什么FRAX测试仪提供坚固耐用的测试夹,确保良好的连接到套管和与仪器的牢固连接。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪用C形夹制作的触点可确保良好的连接。测试仪对于给定变压器上的每次测量,电缆屏蔽层与地面的连接必须相同。传统的接地连接技术在提供可重复条件方面存在问题。这会导致高达频率的测量响应出现不必要的变化,从而使分析变得困难。FRAX扫频响应测试仪的编织物从绝缘盘旁边的连接夹下降到套管底部的接地连接处。这会在每次连接到套管时产生几乎相同的条件(无论它是高还是矮),并且是CIGRE TB342和IEC 60076-18中推荐的连接方式。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪使用C型夹和使用IEC 60076-18(方法1)的牢固连接将屏蔽层接地,可以消除连接问题以及影响测量的电缆回路。测试仪接地回路控制(FRAX 101和150)FRAX内置的“接地回路检测器”检查测试设置并确保包括接地编带在内的所有连接都已正确连接。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪的软件可以从其他FRA仪器导入数据文件,从而可以比较使用其他FRA设备获得的数据。FRAX测试仪可以根据国际XFRA标准格式以及标准的CSV和TXT格式导入和导出数据。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪优化的扫描设置,该软件为用户提供了无与伦比的功能,可以进行快速高效的测试。传统的SFRA系统使用测量点的对数间隔。这会导致在20 Hz和200 Hz之间200 kHz和2 MHz之间的测试点数量较多以及测量时间较长。
来自变压器的频率响应在低频范围内包含一些共振,但在较高频率下有很多共振。FRAX测试仪允许用户在较低频率下指定较少的测量点,在较高频率下指定较高的测量点密度。 结果是在需要更多细节的情况下进行更快速的扫描。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪施加的测试电压可能会影响较低频率的响应。 一些FRAX测试仪不使用主要制造商使用的10 V峰 - 峰值,这可能使测试之间的比较复杂化。FRAX测试仪标准电压为10 V峰峰值,但FRAX测试仪还允许用户调整施加的电压以匹配不同测试中使用的电压。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪在宽动态范围内进行高精度测量对测试设备,测试线和测试设置提出了很高的要求。FRAX的设计考虑到了这些要求 它坚固耐用,能够过滤感应干扰,并具有业界高达的动态范围和精度。FRAX测试仪动态范围如下图所示,其中红色迹线是单位内部的噪音,黑色迹线是典型的变压器测量。宽动态范围(低内部噪声)允许在每个变压器中进行精确的测量。
与FRAX扫频响应测试仪内部噪声水平相比较的变压器测量示例。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪的软件可以从其他FRA仪器导入数据文件,从而可以比较使用其他FRA设备获得的数据。FRAX测试仪可以根据国际XFRA标准格式以及标准的CSV和TXT格式导入和导出数据。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪优化的扫描设置,该软件为用户提供了无与伦比的功能,可以进行快速高效的测试。传统的SFRA系统使用测量点的对数间隔。这会导致在20 Hz和200 Hz之间200 kHz和2 MHz之间的测试点数量较多以及测量时间较长。
来自变压器的频率响应在低频范围内包含一些共振,但在较高频率下有很多共振。FRAX测试仪允许用户在较低频率下指定较少的测量点,在较高频率下指定较高的测量点密度。 结果是在需要更多细节的情况下进行更快速的扫描。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪施加的测试电压可能会影响较低频率的响应。 一些FRAX测试仪不使用主要制造商使用的10 V峰 - 峰值,这可能使测试之间的比较复杂化。FRAX测试仪标准电压为10 V峰峰值,但FRAX测试仪还允许用户调整施加的电压以匹配不同测试中使用的电压。
MEGGER的FRAX扫频响应测试仪在宽动态范围内进行高精度测量对测试设备,测试线和测试设置提出了很高的要求。FRAX的设计考虑到了这些要求 它坚固耐用,能够过滤感应干扰,并具有业界高达的动态范围和精度。FRAX测试仪动态范围如下图所示,其中红色迹线是单位内部的噪音,黑色迹线是典型的变压器测量。宽动态范围(低内部噪声)允许在每个变压器中进行精确的测量。
与FRAX扫频响应测试仪内部噪声水平相比较的变压器测量示例。
本文来自MEGGER的扫频响应测试仪