首先不管是RTC250A型温度校验仪还是RTC250B型温度校验仪，都提供传感器的精确温度校准，无论类型或格式如何。 这是通过创新的双区域加热技术实现的。RTC系列温度校验仪采用了着名的双区域加热技术。 每个加热区都是独立控制的，用于精确的温度校准 下部的同质性接近于实验室液体浴的同质性。 下部区域确保了整个校准区域的较好散热。 上部区域补偿来自被测传感器和开放顶部的热量损失。 这种设计还消除了对被测传感器的额外绝缘的需要，并且可以校准充液传感器和其他机械传感器。

相较于RTC250A型温度校验仪，RTC250B型在同等的基础配置与功能上多出了一个内置的用于传感器测试（输入）的精确测量电路，可以测量几乎任何类型的温度传感器，包括：电阻温度计（RTD），热电偶（TC ），变送器，毫安（mA），电压（V）和恒温器。RTC-B校准器可通过键盘进行编程，以实现全自动传感器校准。 一旦仪器被编程，仪器自动运行并执行配置的校准程序。 所有的校准数据都被储存起来，并可以在显示屏上读取。RTC250B型温度校验仪还可测量RTC，TC，V，mA信号。此外RTC250A型温度校验仪和RTC250B型温度校验仪在中温段的准确度是有所不同的，在33~250摄氏度RTCA型的准确度是±0.28℃，而RTC250B型的准确度是±0.07℃。

RTC250B型温度校验仪的额外配置：外接参考探头接口；外接DLC探头接口；以真值为稳定判聚；负载补偿；；4-20mA信号测量，附24VDC供电；所有输入可转换成为温度值；从计算机下载工单；上传校准结果。其中很突出的是外接DLC探头接口。

那什么又是DLC动态负载补偿呢？
为了将有据可查的积极的双区技术带到更高的水平，AMETEK开发了正在申请专利的新DLC系统。这种新开发的独特功能使得可以在不受实际负载影响的情况下执行高达标定规格。许多传感器或非常大的传感器。一个新的DLC传感器，动态负载补偿传感器，是专门为此开发的。RTC校准器具有双区域温度控制功能，通过调整井口温度使井口温度与井底温度相同，提高了井口的均匀性。双区保持这种差异很小化。所以RTC250B型增加了外接DLC探头接口。

新的DLC传感器不仅可以在井内进行均匀性控制，而且还可以在校准过程中放入被测传感器的插入件内部，进一步提高均匀性。 DLC传感器测量插入件中的温度均匀性，并向有源双区域系统提供反馈，现在该补偿系统将插入件内部的温差补偿到很小。这样，DLC功能使得均匀性与刀片的不同载荷无关。

基于新的DLC功能，RTC温度校验仪是根据全球通用的EURAMET / cg-13 / v.01指南进行校准和测试的市场上性能较好的的干区校准器，用于干区块的校准和测试。DLC系统包含专为RTC设计的特殊差分温度传感器。 传感器放置在插件中并连接到校准器。 启用DLC功能后，校准器将自动均衡插件内部的温度均匀性，并控制温度稳定。

本文来自温度校验仪