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德国菲希尔X射线膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220是一款拥有着极高操作性能,产品设计紧凑以及普遍适用的x射线的测量仪器。它们非常适合于无损涂层厚度测量和材料分析。该仪器非常适合于质量保证、来料检验和过程控制的测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220

XDL210/220应用领域

●测量小零件,如螺丝,螺栓和螺母
●触点和电子元件的测量
●电镀液成分的测定
通过使用比例计数管实现高计数率,从而可以进行精确测量。出色的精度和长期稳定性是所有FISCHERSCOPE x射线系统的特点。重新校准的必要性大大减少,节省了时间和精力。FISCHER的基本参数方法允许分析固体和液体样品以及无需校准的涂层系统。The FISCHERSCOPE X-RAY 
XUL/XULM仪器被设计为用户友好的台式仪器。根据预期用途,不同的版本具有不同的支持阶段:
●XUL 210:固定样本支持
●XUL 220和XULM 240:可手动操作的XY工作台,用于小零件的精确定位
●为了快速方便地定位样品,x射线源和检测器组件位于仪器的下腔中。
●测量方向从样品下方开始,样品由透明窗口支撑。尽管这些仪器体积小巧,但它们配备了一个大的测量室。这样就可以对较大的标本进行测量。
●测量的整个操作和评估以及测量数据的清晰呈现是在PC上执行的,使用功能强大且用户友好的WinFTM®软件。
●FISCHERSCOPE XUL 210, XUL 220和XULM 240仪器符合DIN ISO 3497和ASTM B 568。它们是完全受保护的仪器,根据德国法规“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”进行型式认证。

XDL210/220参数

●设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。
●元素范围:从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时,多可同时测定24种元素
●设计理念:台式仪器,测量门向上开启
●测量方向:由上往下
X射线源
●X射**:带铍窗口的钨管
●高压:  三档: 30 kV,40 kV,50 kV
●孔径(准直器): Ø 0.3 mm 可选:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;长方形0.3 mm x 0.05 mm
●测量点尺寸:取决于测量距离及使用的准直器大小, 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 的测量点大小约Ø 0.2mm
X射线探测
●X射线接收器:测量距离
●比例接收器:0 ~ 80 mm,使用保护的DCM测量距离补偿法
样品定位
●视频系统:高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置 手动聚焦,对被测位置进行监控十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸) 可调节亮度的LED照明,激光光点用于定位样品
●放大倍数:40x – 160x
电气参数
●电源要求:220 V ,50 Hz
●功率:** 120 W (不包括计算机)
●保护等级:IP40
尺寸规格
●外部尺寸:宽×深×高[mm]:570×760×650
●内部测量室尺寸:宽×深×高[mm]:460×495x(参考“样品**高度”部分的说明)
●重量:107 kg
环境要求
●使用时温度:10°C – 40°C
●存储或运输时温度:0°C – 50°C
●空气相对湿度:≤ 95 %,无结露
工作台
●设计:手动X/Y平台
●X/Y平台**移动范围:95 x 150 mm
●可用样品放置区域:420 x 450 mm
●Z轴:马达驱动
●Z轴移动范围:140 mm
●样品**重量:20kg
●样品**高度:140 mm
●激光(1级)定位点:有
计算单元
●计算机:带扩展卡的WINOOWs®计算机系统
●软件:标准: WinFTM® V.6 LIGHT;可选: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER
●执行标准CE合格标准:EN 61010
●型式许可:作为受完全保护的仪器 型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
深圳银飞电子有售X射线膜厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220,文章来源于德国菲希尔

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