Keithley高精度源测量I-V特性测试方案
。2600B源测量单元（SMU）是内置有Java的测试软件的SMU仪表，具有即插即用的I/V特性的分析功能，这个独特的功能对于研发、教育和QA/FA等在各种应用的测试效率提高了。适合用在高度自动化生产的测试应用，无论是单通道还是双通道的源表都将精密电源、真正的电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载功能集成在一体。另外，TSP技术能够运行完整的测试程序，并适用于自动化系统的应用中，TSP技术可以允许链接64条通道，可以用来测试大容量的电子元件。
Keithley2600B源表使用说明书
占地小，功能强大
内容丰富、易于访问的测试库
脚本编辑器，实现现有测试的快速定制
公式工具，便于分析俘获的曲线，并提供多种数据函数
0.015% 基本测量精度，6½ 位分辨率
2604B不包括TSP-Link、数字I/O、接触检查
用于快速信号连接的后面板Phoenix连接器
与KickStart软件一起使用
2601B、2602B和2604B是40W DC/200W的脉冲SMU测试源表，具有10A脉冲、3A至100fA和40V至100nV直流能力，把精密/真实电流源、6½ 位数字万用表、任意波形发生器、脉冲发生器和电子负载的功能的仪器集成在一台设备中。2601B是单通道型号，而2602B和2604B是双通道型号。
2611B、2612B和2634B是30W DC/200W的脉冲SMU测试源表，具有10A脉冲、1.5A至100fA和200V至100nV直流能力。所有2600B的SMU源表都配备了Keithley的TSP脚本和TSP-Link扩展技术。2611B是单通道型号，而2612B和2614B是双通道型号。
2634B、2635B和2636B是30W DC/200W的脉冲SMU测试源表，具有10A脉冲、1.5A至低 0.1 fA和200V至100nV的直流能力，非常适合测试非常敏感的低电流半导体器件等。2635B是单通道型号，而2634B和2636B是双通道型号。
带1A钳位的2600B-PM-1型200V保护模块是一个独立模块，可保护2635B和2636B型免受瞬态过流条件的损坏,用于设备故障或其他潜在故障可能连接1000V电源或SMU仪器的高压输出的应用。
带1A钳位的2600B-PM-1型200V保护模块是一个独立模块，可保护2635B和2636B型免受瞬态过流条件的损坏,用于设备故障或其他潜在故障可能连接1000V电源或SMU仪器的高压输出的应用。
利用2600B源测量单元可以快速地对分立器件进行I-V特性的测试，把测试参数分析出来，以方便工程师对器件的品质进行评估。小型的电子 元器件的种类有很多，引脚的数量和需要测试的参数也都不一样；除此之外，新型号材料和元器件对测试的设备的要求也提高了，需要测试的设备可以具备更高的低电流的测试能力，而且可以支持各种不同的功率范围内的电子元器件。
文章来源于测试仪器
随着电子元器件的外观尺寸的减小，对于测试系统的要求也逐渐变得越来越高。通常元器件接触到电极的尺寸非常小，是微米量级的，对低噪声的源表、探针台和显微镜的测试性能提出很大的考验。
对于I-V的特性的测试的难题，可以推荐使用keithley2600B高精度源测量单元作为核心的测试设备，再搭配操作简单，功能强大的CycleStar的测试软件和测量精确且稳定的探针台。
keithley2600B可以提供比较简单实用的I-V特性测试，可以对二极管、双极型晶体管BJT、MOSFET场效晶体管和MOS元件的参数的提取等双端口或者三端品的电子元器件进行测量和分析。在同一个测试平台中，使用两个完全隔离开的宽动态通道，可以满足生产的测试需求。其中每个40W的测试通道都可以提供6½位的精度分辨率，可在小于100µs的脉冲宽度和稳定值的0.1%以内测量10A脉冲至0.1fA和200V至100nV。
